中教数据库 > 电子与封装 > 文章详情

芯片倒装封装中焊球及铜互连对高速差分信号传输特性影响的仿真研究

更新时间:2015-11-19

【摘要】焊球与铜互连是芯片倒装封装中两种主要的互连结构,而随着数字电路时钟频率的不断提升,差分信号已成为高速数字电路中最常用的信号形式。采用HFSS 全波仿真方法对芯片倒装封装中高速差分信号在差分对焊球和铜互连结构中的传输特性进行了研究。

【关键词】

11 2页 免费

发表评论

登录后发表评论 (已发布 0条)

点亮你的头像 秀出你的观点

0/500
以上留言仅代表用户个人观点,不代表中教立场
相关文献

推荐期刊

Copyright © 2013-2016 ZJHJ Corporation,All Rights Reserved

京ICP备2021022288号-1

京公网安备 11011102000866号